Microscopie Electronique enTransmission, MET

Présentation

La Microscopie Electronique en Transmission (MET) est une entité du Centre de Micro/Nano Caractérisation qui dépend lui-même du Département Technique d’Analyses et Instrumentation du Laboratoire ICB. Ce service est également intégré à la plateforme Applications Recherches et Caractérisation à l'Echelle Nanométrique (ARCEN) de la Fédération de Recherche Sciences de la Matière & Technologies.

La mission première du service MET est la gestion et la garantie du fonctionnement des microscopes électroniques en transmission, du laboratoire ICB et de la FR, ainsi que des moyens d'analyses associés (spectroscopie de rayons X, EDX, et spectroscopie de pertes d'énergie des électrons, EELS) ainsi que des instruments de préparations des échantillons. L'extension de cette mission est d'offrir un soutien à la recherche fondamentale et aux activités de recherche appliquée.

Le service MET met donc à disposition des équipes de l’ICB, mais aussi à l’ensemble de la communauté scientifique des autres centres de recherches publics ou privés et à Welience (marque de la SATT GRAND EST, Société d'Accélération du Transfert de Technologie), ses moyens techniques et ses compétences pour la réalisation de caractérisations et de recherches. Ces offres s'effectuent soit par la réalisation des expériences par le personnel propre du service, soit par un soutien après une formation préalable dispensée par le service.

Les équipements disponibles sont :

  • MET JEOL JEM 2100F
  • MET JEOL JEM 2100
  • Instruments de préparation des échantillons

Instruments

MET JEOL JEM 2100F


 

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Caractéristiques

  • Canon électronique à émission champ thermo-assistée, ZrO/W(100) Schottky
  • Tension d’accélération, 80kV, 200kV
  • Pièce polaire URP, résolution ponctuelle 0.19 nm, réseau 0.10 nm
  • Dispositif balayage, résolution en mode balayage 0.20 nm
  • Imagerie en champ noir annulaire à grand angle HAADF, détecteur champ clair BF et champ sombre annulaire ADF
  • Analyse en dispersion d’énergie des rayons X (EDS Bruker Quantax SDD XFlash 5030 30 mm2, résolution 133 eV sur Mn Kaα)
  • Spectroscopie de perte d’énergie des électrons (EELS, GIF Tridiem Gatan, résolution standard 0.75 eV / 1 eV)
  • Imagerie filtrée en énergie (EFTEM)
  • Caméra Gatan USC 1000 (2k x 2k)

Applications

  • Analyses cristallographiques et chimiques
  • Nanomatériaux (nanotubes, nanorubans)
  • Nanoparticules en catalyse
  • Composites et acier

MET JEOL JEM 2100


 

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Caractéristiques

  • Canon électronique à émission thermo-ionique, LaB6
  • Tension d’accélération, 80kV, 200kV
  • Pièce polaire HTP, résolution ponctuelle 0.25 nm, réseau 0.14 nm
  • Analyse en dispersion d’énergie des rayons X (EDS JEOL JED 2300T 30 mm2, résolution 133 eV sur Mn Kα)
  • Caméra Gatan Erlangshen ES500W (1350 x 1040), port 35mm
  • Caméra Gatan USC 1000 (2k x 2k)

Applications

  • Analyses cristallographiques et chimiques
  • Nanomatériaux (nanotubes, nanorubans)
  • Nanoparticules en catalyse
  • Composites et acier

Préparation des échantillons


 

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Equipements

  • scie à fil (Well 3241 ESCIL)
  • polisseuses (Minimet Buehler, ESC 300 ESCIL)
  • meule concave (Dimple Grinder 656 Gatan)
  • amincisseur ionique (PIPS 691 Gatan)
  • tripode (CRM/ICB)

Contact

Rémi Chassagnon
Laboratoire Interdisciplinaire Carnot de Bourgogne,
UMR 6303 CNRS-Université de Bourgogne,
9 Av. A. Savary, BP 47870
F-21078 DIJON Cedex, FRANCE

Email : Cette adresse e-mail est protégée contre les robots spammeurs. Vous devez activer le JavaScript pour la visualiser.
Tél : +33 (0)3 80 39 55 08
Fax : +33 (0)3 80 39 61 32